Boundary Scan
Hierbei handelt es sich um ein Testverfahren mit hoechstens 5 benoetigten Signalleitungen, die entsprechend ueber Kontaktierungsstellen auf der Baugruppe zugaenglich sein muessen. Hochintegrierte Bausteine, wie Microprozessoren oder FPGAs (Field Programmable Gate Arrays) besitzen an ihren Ein- und Ausgaengen sogenannte Boundary Scan Zellen. Die Ein- Ausgangs-Struktur des gesamten Bausteins ist durch eine serielle Verkettung der E/A-Zellen wiedergegeben. Zur Modifikation der E/A-Zustaende besitzen die Bausteine folgende Signalleitungen
- TDI (Test Data Input)
- TDO (Test Data Output)
- TCLK (Test Clock)
- TMS (Test Mode Select)
- TRST (Test Reset) (optional)
Genrad TestStation im Testbetrieb
Die Gruppe dieser Signalleitungen wird als TAP (Test Access Port) bezeichnet. Die Funktionalitaet des TAP ist als FSM (Finite State Machine) mit 16 Zustaenden ausgelegt. Die Eingangs-Testzellen werden seriell mit Testmuster-Daten ueber die TDI-Leitung mit entsprechendem Takt ueber die TCLK-Leitung gefuellt. Ueber die TMS-Leitung kann im Anschluss ein bestimmter Testmodus gewaehlt werden, der zum Testergebnis fuehrt und parallel an den Ausgangs-Testzellen anliegt. Das Antwort-Muster kann seriell ueber TDO und im entsprechendem Takt an TCLK ausgelesen und fuer eine anschliessende Verifikation herangezogen werden. Ueber den TAP kann der Baustein auch programmiert werden (ISP - In System Programmierung). Die Spezifikation des TAP ist im JTAG (Joint Test Action Group)-Standard IEEE 1149.1 festgelegt. Teradyne unterstuetzt die Entwicklung von Boundary Scan Tests mit dem "VICTORY" Werkzeug, das u.a. die Entwicklung von:
- Testmuster fuer den BICT (Boundary In Circuit Test)
- Effizienten und schnellen Testpatterns VIT (Virtual Interconnect Tests)
- Tests fuer Bauteile und Funktions-Cluster durch Kombination von Testnadeln und virtuellen Test-Kanaelen = Boundary Scan
- Analysen der Fehler von seriellen Testmustern um den Benutzer das fehlerhafte Netz unmittelbar anzuzeigen BSID (Boundary Scan Intelligent Diagnostics)
- u.v.m.
