Vollautomatische Inline Testanlage (ITA 20/x)
Uebersicht der gesamten Anlage
Die ITA 20/x Testanlage realisiert ein unabhaengiges Testsystem, das sich besonders fuer grosse Stueckzahlen eignet. Hoher Durchsatz und minimale Zykluszeiten sind die Hauptmerkmale der Anlage. In der Bezeichnung steht die Zahl "20" fuer die Anzahl der Baugruppentraeger (Carrier), welche am Umlauf beteiligt sind und "/x" fuer die Anzahl der Nutzen im Carrier, in diesem Beispiel "/4". Die ITA 20/x kann als Inselsystem oder vollstaendig integriert in einer Produktionslinie betrieben werden.
Carrier werden um die Kurve gezogen, durch den Fixierpunkt drehen sie sich automatisch um 90°
Mit den 20 umlaufenden Carriern zu je 4 Baugruppen ist ein Durchsatz von bis zu 4000 Prueflingen pro Stunde realisierbar, da die Arbeitsschritte
- Beladen mittels des ersten Greifer-Arms
- Pruefen im Doppelhub-Pruefkopf
- Entladen mittels des zweiten Greifer-Arms
Ein ovales, umlaufendes Band, das Carrier-Band, transportiert staendig Baugruppentraeger. Diese werden mit zwei Greifer-Armen be- und entladen. Zur Einschleusung gefertigter Baugruppen fuehrt ein geradliniges Band, das Paletten mit neuen Prueflingen transportiert. Ein Greifer-Arm nimmt mit einem Hub 4 Baugruppen aus der Palette und platziert sie auf einem Carrier. Ein spezieller Spannrahmen fixiert dort die Prueflinge ueber deren Aussenkontur. Hohe Belastungen und Beschaedigungen werden so vermieden.
Funktionsweise
Greifer entnimmt 4 weitere Baugruppen aus einer Palette um sie im naechsten leeren Carrier abzulegen
Waehrend beim naechsten Vorruecken des Carrier-Bandes ein zuvor beladener Carrier im Pruefkopf auf Position gebracht und getestet wird, holt sich der Greifer die naechsten 4 Baugruppen, die er in den naechsten freien Carrier legt. Waehrend der Beladung von Carriern nimmt der zweite Greifer-Arm bereits gepruefte Baugruppen aus dem positionierten Carrier heraus und legt sie, je nach Testergebnis, entweder in leere Paletten im Pass-Fall oder in das Fehler-Band im Fail-Fall. Das Fehler-Band befindet sich zwischen dem Carrier-Band und dem Paletten-Band, so braucht der Greifer nur dann ueber dem Fehler-Band stehen zu bleiben wenn einzelne Baugruppen abzulegen sind und mindestens eine der 4 Baugruppen fehlerhaft ist. Die Greifer des Armes sind dazu einzeln steuerbar. Pass-getestete Baugruppen werden im Vorbeifahren an der Markierstation als Pass markiert.
Zur Umruestung auf eine andere Baugruppenserie, koennen die Carrier in weniger als 20 Minuten ohne Werkzeug ausgetauscht werden, da sie schnell wechselbar an dem Band fixiert sind.
Greifer legt die naechsten 4 Baugruppen im folgenden leeren Carrier ab
Die Anlage ist in diesem Beispiel fuer Baugruppen mit bis zu 280 Testpunkten ausgelegt, die Hoehe spielt durch die individuelle Anpassung der Kassetten im Pruefkopf keine Rolle.
Mit der Markierstation und einer Pass-Fail-Ausschleusung macht die ITA 20/x ein sehr flexibles und effizientes Testhandling moeglich.
Um steigende Testanforderungen zu bewaeltigen, unterschiedliche Testzeiten auszugleichen oder den Durchsatz zu steigern, kann der kompakte Doppelhub Pruefkopf auch problemlos mehrfach integriert werden.
